LES ANALYSEURS RAMAN :DES OUTILS PUISSANTS POUR L'ANALYSE NON DESTRUCTIVE ET LA CARACTÉRISATION D'UNE LARGE GAMME DE MATÉRIAUX
La spectroscopie Raman est une technique analytique non destructive basée sur la diffusion inélastique de photons liée aux différents modes vibrationnels des molécules. Cette découverte par CV Raman en 1928 a abouti à une méthode simple mais efficace pour déterminer la structure de molécules simples qui continue de gagner en popularité au sein de la communauté scientifique. Lorsque le laser du spectromètre interagit avec un échantillon, l'énergie de la lumière rétrodiffusée est décalée, ce qui donne lieu à un spectre Raman qui fournit des informations précieuses sur la structure chimique.
Un spectromètre Raman est un instrument d'analyse utilisé pour mesurer l'effet de diffusion de Rayleigh se compose de trois éléments : le laser, le spectromètre lui-même et l'interface d'échantillonnage.
Dans un spectromètre Raman Metrohm, ces trois composants sont développés et fabriqués parMetrohm Raman, B&W Tek
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SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.