ICP-TOFMS
Le GBC OptiMass est le seul spectromètre de masse à temps de vol SIMULTANÉ au monde.
L'OptiMass couvre à la fois le dépistage de routine traditionnel et l'analyse d'échantillons jusqu'à l'ablation laser, le four graphite et les applications d'interface HPLC. En fait, la vitesse d'analyse de l'OptiMass est particulièrement adaptée à toute analyse rapide de type transitoire.
Quelle que soit votre application, l'OptiMass effectuera des analyses plus rapides, plus précises et plus rentables que jamais.
L'OptiMass acquiert toutes les masses simultanément. Le temps d'analyse est le même pour une masse ou pour toutes les masses.
L'OptiMass effectue 30 000 acquisitions par seconde. Chaque acquisition mesure simultanément toutes les masses et tous les isotopes de la masse 1 à la masse 260 amu. Cette caractéristique unique représente une avancée technologique majeure et différencie l'OptiMass de tout autre spectromètre de masse ICP.
De nouvelles fonctions logicielles telles que Semi Quant, Retrospective Semi Quant, Fingerprinting et Auto Optimisation ouvrent de nouvelles voies à la spectroscopie de masse. L'analyse transitoire, les mesures améliorées du rapport isotopique et l'analyse jusqu'à 10 fois plus rapide par rapport à l'ICP-MS conventionnel. Deux des principaux domaines d'application sont la certification des matériaux et solutions de référence pour l'environnement et l'analyse médico-légale. Des packages USEPA et Ablation Laser sont également disponibles.
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.