NIRS XDS Process Analyser
Ce spectromètre fournit des analyses rapides et non destructives sur des échantillons pharmaceutiques, chimique et pétrochimiques. Le NIRS XDS PA est équipé d’un multiplexeur vous permettant de contrôler jusqu’à 9 process différents avec le même instrument.
Caractéristiques principales :
√ Performances analytiques inégalées grâce à la technologie brevetée XDS
√ Plage spectrale étendue de 800 à 2200 nm pour une large gamme d’applications possibles.
√ Mesures qualitatives, quantitatives et suivis de tendance process en temps réel
√ boîtier robuste NEMA 4X
√ Aucun solvant ni réactif pour des analyses écologiques et économiques
Précision optimale grâce la technologie basée sur les fibres optiques micro faisceaux.
Les fibres utilisées sont insensibles à la température et présentent une résistance mécanique et chimique supérieure.
Un seul spectromètre NIRS XDS PA pour contrôler jusqu’à 9 process
Le NIRS XDS PA est disponible en monovoie, 4 voies ou 9 voies pour réduire au maximum le coût analytique.
Outil PAT en accord avec la FDA
Permet d’implémenter le Process Analytical Technology, initiative de la Food and Drug Administration. Le principal avantage est d’obtenir un film complet de votre process, au lieu de simples clichés récupérés par des analyses au laboratoire chronophages et couteuses
VISION : le logiciel complet et intuitif pour la spectroscopie NIR
logiciel simple et intuitif VISION qui assure la collecte des données, le développement des méthodes qualitatives et quantitatives, l’analyse de routine via une interface simplifiée et les diagnostiques de l’instrument.
Précision optimale grâce la technologie basée sur les fibres optiques micro faisceaux.
Pour les environnements de production les plus contraignants, Metrohm Applikon développe pour vous des solutions sur mesure.
Le projet peut aller de la simple conception d’un système de conditionnement de l’échantillon jusqu’à la fourniture d’un shelter complet doté de la certification ATEX Zone 1 ou 2.
Téléchargements
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.