LA SPECTROSCOPIE NIR EST PLUS ADAPTÉE QUE LA SPECTROSCOPIE IR POUR VOS DÉFIS ANALYTIQUES EN LABORATOIRE ET DANS LES PROCESSUS DE FABRICATION INDUSTRIELS.
Les spectroscopies IR (infrarouge) et NIR (proche infrarouge) utilisent différentes plages spectrales de lumière. La lumière dans la plage NIR a une énergie plus élevée que la lumière IR ce qui affecte l'interaction avec les molécules d'un échantillon. Cette fonctionnalité permet d'effectuer des analyses sans préparation d'échantillon , car il n'est pas nécessaire de préparer de très fines couches d'analyte ou d'utiliser l'ATR (réflexion totale atténuée).
La spectroscopie NIR peut être utilisée pour la quantification de substances chimiques (par exemple, l'humidité , la teneur en API ), la détermination de paramètres chimiques (par exemple, l'indice d'hydroxyle , l'indice d'acide total ) ou de paramètres physiques (par exemple, la densité , la viscosité , la viscosité relative et la viscosité intrinsèque )
Les spectromètres proche infrarouge sont une technique complémentaire pour l'analyse d'une grande variété d'échantillons en laboratoire et en cours de fabrication, qu'il s'agisse de liquides, de solides, de pâtes, de boues, de comprimés ou de capsules.
Notre gamme de spectromètres proche infrarouge comprend des solutions de laboratoire et de process pour diverses industries
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.