nex de séries
En tant qu'analyseur élémentaire EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) de paillasse hautes performances, le Rigaku NEX D’offre une large couverture élémentaire avec le logiciel QuantEZ basé sur Windows® facile à apprendre. Analyser de manière non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides et boues.
Caractéristiques :
- Analyser le sodium et l'uranium de manière non destructive
- Logiciel puissant basé sur Windows QuantEZ
- Solides, liquides, alliages, poudres et films
- Tube à rayons X de 60 kV pour une large couverture élémentaire
- Détecteur FAST SDD pour des données supérieures
- Six filtres tubulaires automatisés
- Rapport performances / prix inégalé
- Paramètres fondamentaux RPF-SQX en option
Analyse élémentaire XRF sur le terrain, en usine ou en laboratoire
Spécialement conçu et conçu pour un usage industriel intensif, que ce soit dans l'usine ou dans des environnements de terrain éloignés, la puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d'utilisation du NEX DE ajoutent à son large attrait pour une gamme d'applications en constante expansion. , y compris l'exploration, la recherche, l'inspection RoHS en vrac et l'éducation, ainsi que les applications de surveillance industrielle et de production. Qu'il s'agisse d'un contrôle de qualité de base (CQ) ou de ses variantes plus sophistiquées - telles que le contrôle de la qualité analytique (AQC), l'assurance de la qualité (QA) ou le contrôle de processus statistique comme Six Sigma - le NEX DE est le choix haute performance fiable pour analyse élémentaire de routine par XRF.
XRF avec tube à rayons X 60 kV et détecteur SDD
Le tube à rayons X de 60 kV et le détecteur de dérive au silicium FAST SDD® refroidi par Peltier offrent une répétabilité exceptionnelle à court terme et une reproductibilité à long terme avec une excellente résolution de crête des éléments. Cette capacité haute tension (60 kV), associée à un courant d'émission élevé et à de multiples filtres à tubes à rayons X automatisés, offre une large gamme d'applications XRF polyvalentes et de faibles limites de détection (LOD).
Options XRF: échantillonneur automatique, vide, hélium et FP standard
Les options comprennent des paramètres fondamentaux, une variété de changeurs d'échantillons automatiques, une centrifugeuse d'échantillons et une purge à l'hélium ou une atmosphère sous vide pour une sensibilité accrue des éléments lumineux.
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.