module de conductivité 856
Avec le Module de conductivité 856, vous pouvez concevoir un système personnalisé – que vous ayez à gérer un nombre important d’échantillons ou de multi-paramètres, ou que vous souhaitiez avoir une large liberté pour la programmation adaptée à vos applications.
Ces modules associent un grand niveau de flexibilité et de confort technique avec une technologie de mesure au goût du jour. De plus, ils répondent complètement à la norme FDA.
Caractéristiques principales :
√ Complément pour systèmes Titrando/tiamo ou utilisation en système autonome
√ Liberté de programmation de méthodes avec le logiciel tiamo .
√ Connexions de différents accessoires incluant les possibilités d’automatisation
√ Conformité FDA avec tiamo full ou 900 Touch Control
√ Compatible avec les électrodes intelligentes
avantages
Système personnalisé adapté à votre application
Avec le conductivité, vous pouvez concevoir votre système selon vos exigences. Que vous souhaitiez utiliser un module en système de mesure autonome avec un Touch Control 900, ou bien l’intégrer dans une configuration avec tiamo , tout est possible.
Ajouter des passeurs d’échantillons, moteurs de burette, imprimantes et plus
Avec les interfaces MSB (Metrohm Serial Bus) et USB, vous pouvez connecter différents périphériques: des passeurs d’échantillons pour une automatisation facile, des moteurs de burettes, par exemple, pour ajout automatique de standards
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.