module de spectroscopie d'impédance (fra)
Le FRA32M fournit les moyens de réaliser des mesures d'impédance et d'impédance électrochimique en association avec l'Autolab. Ce module permet à la fois de réaliser des mesures d'impédance potentiostatiques et galvanostatiques sur une large gamme de fréquences allant de 10 µHz à 32 MHz (avec une limitation à 1 MHz en combinaison avec l'Autolab PGSTAT). Outre la Spectroscopie d’Impédance Électrochimique classique, le logiciel NOVA permet aussi aux utilisateurs de moduler d'autres signaux extérieurs tels que la vitesse de rotation d'une électrode à disque tournante ou la fréquence d'une source lumineuse en vue de réaliser une spectroscopie d'impédance électro-hydrodynamique ou photomodulée.
Le module FRA32M est fourni avec un logiciel puissant d'adaptation et de simulation pour l'analyse des données d'impédance
Fréquence maximale, en Hz, en association avec Autolab 1 MHz Gamme d'amplitude en mode galvanostatique en ampère 0.0002 - 0.35 * Current range A (RMS) Gamme d'amplitude en mode potentiostatique en volt 0.2 mV to 0.350 V (RMS) Gamme de fréquence en Hz 10 µHz - 32 MHz Gamme d'entrée en volt 10 V Résolution de la fréquence en Hz 0.003 %
| Fréquence maximale, en Hz, en association avec Autolab | 1 MHz |
|---|---|
| Gamme d'amplitude en mode galvanostatique en ampère | 0.0002 - 0.35 * Current range A (RMS) |
| Gamme d'amplitude en mode potentiostatique en volt | 0.2 mV to 0.350 V (RMS) |
| Gamme de fréquence en Hz | 10 µHz - 32 MHz |
| Gamme d'entrée en volt | 10 V |
| Résolution de la fréquence en Hz | 0.003 % |
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.