Analyseurs Raman portables
La spectroscopie Raman portable a contribué à améliorer le contrôle qualité et l’inspection des échantillons grâce à des analyseurs à coût raisonnable et faciles à utiliser, et qui peuvent être utilisés directement où le besoin est identifié.
La spectroscopie Raman peut être utilisée pour une analyse directe d’échantillon, généralement sans prétraitement ni préparation préalable. La spectroscopie Raman a la capacité unique de pouvoir analyser un échantillon directement au travers les matériaux d'emballage transparents tels que le verre ou le plastique, ce qui en fait une méthode simple et rapide pour l'identification et l'analyse des matières. Grâce à leur portabilité, leur miniaturisation, et à leur fonctionnement intuitif, les spectromètres Raman portables augmentent considérablement l'efficacité des contrôles qualité car ils ne nécessitent pas l’utilisation pas de produits chimiques comme les méthodes traditionnelles d’analyses.
Caractéristiques clé :
√ Identification et vérification non destructives des échantillons
√ Pas de préparation nécessaire
√ Analyse au travers du verre ou du plastique
√ Analyse rapide et simple
√ Sensibilité supérieure des spectromètres pour des résultats reproductibles
√ Logiciel intuitif avec une utilisation facile sur écran tactile
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.