alert ion analyser
L'appareil d'analyse Alert Ion Analyzer sert à mesurer des paramètres simples. Plusieurs analytes courants sont mesurables à l'aide d'électrodes ioniques spécifiques (EIS). L'exactitude et la fiabilité des mesures par électrodes ioniques spécifiques sont nettement améliorées par la technique DSA (Dynamic Standard Addition).
Ce produit n'est plus en vente, mais son support est toujours assuré. Le 2026 Titrolyzer remplace ce produit.
Spécifications Techniques
Degré de protection IP55 Dimensions en mm (La/H/P) 440/660/300 Nombre de flux d'échantillons 1 Poids kg 20 Température ambiante 5-40 °C
alert colorimeter
Le colorimètre Alert Colorimeter sert à mesurer des paramètres simples. Plusieurs analytes courants sont mesurables avec notre analyseur de configuration robuste. À l'aide de la technique DAC (Differential Absorbance Colorimetry), l'appareil d'analyse compense la couleur et la turbidité de l'échantillon dans tous les cas.
Ce produit n'est plus en vente, mais son support est toujours assuré. Le 2029 Process Photometer remplace ce produit.
Spécification Techniques
Degré de protection IP55 Dimensions en mm (La/H/P) 440/660/300 Nombre de flux d'échantillons 2 Poids kg 20 Température ambiante 5-40 °C
SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF
Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.
XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.